光學瓦檢儀的故障處理

光干涉瓦檢儀的常見故障及處理方法：

（1）干涉條紋現(xiàn)場過小

主要表現(xiàn)是當?shù)诙l黑條紋對零后，在劃分板右側出現(xiàn)暗影，或者第一條黑色條紋前的干涉條紋不到兩條。

主要原因是光路不正，平面鏡后傾不足或后傾過量，導致一部分從折光棱鏡反射回來的光線投射不到平面鏡上，是平面竟干涉區(qū)過小。

處理方法是調整平面鏡和折射棱鏡的傾角。

（2）讀數(shù)偏小。

一臺瓦檢儀對好零位基線后，未檢測前就出現(xiàn)基線左移或者幾臺瓦檢儀同時對同一地點進行瓦斯檢測時，有的瓦斯儀顯示的數(shù)據(jù)偏小。

出現(xiàn)這種原因較復雜，主要是：

1、溫差大引起的讀書偏小，儀器對零地點溫度比被檢測地點溫度低得多（15℃）；

2、儀器空氣室污染引起讀數(shù)偏?。?/p>

3、儀器漏、串氣引起讀數(shù)偏?。?/p>

4、儀器對零位不當引起讀書偏小，儀器在井下使用時不慎碰撞需重新對零時，就在空氣不新鮮的巷道中進行，增加了儀器空氣室空氣的折射率；5、儀器毛細管漏氣、堵塞引起讀數(shù)偏小，因此仔細查清原因，進行處理。

（3）干涉條紋彎曲

這是由于

1、通光區(qū)表面光圈不良；

2、儀器平面鏡、反射棱鏡、折射棱鏡材質不合格

3、空氣室平行玻璃不合格或有劃痕；

4、物鏡開膠；

5、銀層局部劃傷。

處理方法是，判斷彎曲程度、確定受影響鏡片，然后更換鏡片或將平面鏡或折光棱鏡翻過來組裝調整。

（4）傾斜或干涉條紋雖直但向一側平行的傾斜。

原因有：

1、折光棱鏡座的底平面發(fā)生變化，

2、水平度發(fā)生變化處理時先將折光棱鏡座的底面左右方向磨平，使棱鏡能繞大法線旋轉，然后再磨，調整條紋寬度，最后調整干涉條紋傾斜。

（5）干涉條紋加壓時反向移動

原因是底座傾向、傾角不對、更換平面鏡底座即可

（6）干涉條紋“虛”、“粗”

原因有：

1、燈泡表面有毛??；

2、光路找的不準確，使條紋變“虛”；

3、平面鏡的平行度不好，折光棱鏡的直角誤差超出規(guī)定值；

4、鏡片污染；

5、平面鏡和折光棱鏡間存在應力，裝配時螺釘松緊不當。

（7）檢測出的CO2濃度出現(xiàn)負值出現(xiàn)負值

原因是兩次檢測值不在同一側點，例如先在巷道頂部測CH4濃度，然后取下CO2吸收管，在巷道底部檢測混合氣體濃度，再將兩次測得的數(shù)據(jù)相減，乘以校正系數(shù)得出CO2濃度，如巷道頂部的CH4濃度大于巷道底部的混合氣體濃度則會出現(xiàn)負值。避免該現(xiàn)象的辦法是，用此方法檢測CO2濃度時，必須在同一側點、同一時間檢測混合氣體和CH4氣體濃度，糾正在兩個檢測點檢測的錯誤方法。